ST-20掌上型方块电阻测试仪
ST-20掌上型方块电阻测试仪详细资料
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ST-20掌上型方块电阻测试仪,是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻 | |
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| 技术指标 1.测量范围： 基本量程：方块电阻 10.0-199.9(Ω/口) 扩展量程: 方块电阻 100-1999(Ω/口) 2.测量不确定度≤5% 3.探针间距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500 MΩ | |
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