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毫欧表微阻计
名称 :
数字微欧计MO-2Ke
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
美国米尼帕
简介:
数字微欧计MO-2Ke
名称 :
台湾泰仕TES700 直流电阻微欧姆表TES-700
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
台湾泰仕TES
简介:
最大5A的测试电流 · 四线式的量测法 · 7个档位(16mΩ到6KΩ) · 最佳解析度1μΩ · 准确度0.05% · 可测试电感性的电阻 · 附带电线长度量测功能
名称 :
表面阻抗测试仪QUICK-499
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
国产品牌
简介:
特点: * 采用精密、低功耗运算放大器比较、解算,发光二极管显示。 * 灵敏度高,使用可靠。 * 体积小,重量轻,耗电少。 * 便携式设计,携带方便。
名称 :
MO2002桌上型微阻计
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
台湾路昌lutron
简介:
MO2002桌上型微阻计测量范围:0.01m~20K奥姆
名称 :
微欧姆计 3245
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
国产品牌
简介:
使用3个数字显示器可同时显示读值、HI Limit、LO Limit 读值使用4 1/2位大型(0.5英吋)七段显示器 使用4 1/2位模拟数字转换器提供高准确度的量测
名称 :
ST-21型方块电阻测试仪
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
其他品牌
简介:
ST-21型方块电阻测试仪是四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,是一种依照类似国家标准和美国A.S.T.M标准而设计,专门测量半导体方块电阻(或称薄屋电阻、面电阻,单位Ω/□)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(如ITO透明导电氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。
名称 :
交流微电阻计3560
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
日本日置HIOKI
简介:
交流微电阻计3560
名称 :
微阻计M0-2001
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
台湾路昌LUTRON
简介:
名称 :
微阻计M0-2001
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
台湾路昌lutron
简介:
微阻计MO2001测量范围: 0.1mΩ-2000Ω.±0.75%
名称 :
表面电阻测试仪SIMCO ST-3
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
美国品牌
简介:
●快速,准确测量表面和对地电阻 ●轻便易用,便于操作 ●10个LCD显示测试结果 测试范围:10E3~10E12 Ω/sq 测量精确度:±10%
名称 :
SRM-232型方块电阻测试仪
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
其他品牌
简介:
SRM-232型方块电阻测试仪是手持式方块电阻测试仪,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。 SRM-232型方块电阻测试仪根据不同的测量范围分成以下四种型号:SRM-232-10、SRM-232-100、SRM-232-1000、SRM-232-2000
名称 :
数字毫欧表YF-508
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
台湾ATEST
简介:
数字毫欧表YF508◆量程:200mΩ/2 Ω/20 Ω/200 Ω/2K Ω/20K Ω
名称 :
微电阻计3541
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
日本日置HIOKI
简介:
微电阻计3541 测量电阻 20m/200mΩ, 2/20/200/2k/20k/100kΩ, 1M/10M/100MΩ,最小分辨率: 0.1μΩ,在慢挡模式下: 2/20/200/2kΩ, 最小分辨率: 10μΩ
名称 :
ST-20掌上型方块电阻测试仪
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
其他品牌
简介:
ST-20掌上型方块电阻测试仪,是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻
名称 :
微电阻计3540-01/3540-02/3540-03
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
日本日置HIOKI
简介:
微电阻计3540-01/3540-02/3540-03
名称 :
MOM 600A大电流微欧
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
瑞典保珈玛PROGRAMMA
简介:
瑞典保珈玛PROGRAMMA MOM 600A大电流微欧计输出电流:0--600A DC 测试范围:0--1999μΩ 分辨率:1μΩ 重量:25KG
名称 :
桌上型微阻计MO2002
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
台湾路昌LUTRON
简介:
名称 :
XX-2型方块电阻测试仪
类型 :
毫欧表微阻计
毫欧表微阻计品牌:
其他品牌
简介:
XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻
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