IS 12-SI光谱范围近远红外线窄带专门用与测量硅晶体的温度带有6个固定镜头和三个可变镜头此款测温仪应用了近红外线窄带设计,并带有一个窄带滤波器,这样就可以实现从350℃开始测量透红外线的硅晶体的温度 测温范围:400...900℃ 350...1000℃ 500...1800℃ 400...1300℃
光谱范围:近远红外线窄带信号处理: 光电流马上被数字化测温精度: 在发射率选择正确的情况下, (ε = 1, t90 = 1 s, TU = 23°C)1500℃以下为测温值℃ 的±0℃+ 1K 1500℃以上为测温值℃ 的±0,5%显示:内置五位液晶显示屏,另带有功能键液晶显示分辨率: 数字显示及接口为1℃,模拟输出小于测温范围的0,025%重复精度: 测量值℃的0,1%±1K响应时间t90: 10 ms 可调至10 s发射率ε: 0.100 ... 1.000 ,,每步可调0.01模拟输出: 线形,直流电流0 至20mA和4至20mA可以转换,负载为0至500欧姆 测试电流输出: 10 mA/每一个信号瞄准装置: 内装有无视差的直通式瞄准装置,另有附加的激光导向灯。