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镭射对刀系统OMP40

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镭射对刀系统OMP40

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特点: 美国Metronics Quadra-Chek测量系统 QC5000(2D)--主要应用于光学投影仪和 视像测量仪的2D测量系统. QC5000(3D)--主要应用于视像测量仪和 接触式三座标(CMM)的3D测量系统. QC5000(CNC) --主要应用于视像测量仪和 接触式三座标的3D自动测量系统.

镭射对刀系统OMP40详细资料

标准特性:
* 公英制转换
* 完全部件编程
* 生成指示
* 线差补偿
* 无限制数据储存
* 正座标/极座标
* CAD界面
* 数据输出
* 组误差控制
* 可编程部件放大
* 轴定位和特征建立
* 每个特征均可有高达100个数值点  




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